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iW 堅牢型PDA

 iW 堅牢型PDA (Ragged PDA) は、苛酷な環境下でポータビリティーのある、690グラムの端末です。 
本端末は、産業、防衛、自動車等の用途にご使用いただけます。
MILグレードのPDAは、MIL-Std-810Fや、461EMI,EMC、落下振動、苛酷な温度条件、防水、防塵に対応しており、屋外や、産業用途として日々の業務に対応するPDAです。
MILグレードのソフト・ハード開発を支援いたします。
お問い合せは、アイウェーブ・ジャパン株式会社まで。

基本性能

  • プロセッサ
    • Intel PXA270 520MHz
  • フラッシュメモリ
    • 128MB NANDフラッシュ
    • 64MB NORフラッシュ
  • RAM
    • 128MB
  • 外部ポート
    • RS-232C 2ポート
    • USB 1.1ホスト 1ポート
  • キーボード
    • 上下左右ジョイスティック
    • 電源、プログラム可能なキー
    • ソフトキーパッド
  • 無線
    • SDIO WLAN 802.11b
  • バッテリ
    • 充電可能なリチュウムイオンバッテリ
  • GPSモジュール+アンテナ
  • OS
    • WindowsCE 5.0
  • 筐体は、以下の仕様に準拠
    • 810E環境試験、461 EMI EMC
  • 表示
    • 240x320ドットカラーLCD表示
    • 3.5インチタッチスクリーン付き

外観図



サポート状況


iW 堅牢型PDAのハードウエア、ソフトウエアサポート状況は次のとおりです。
         (Yes:サポート済み、NO:カスタマイズ可能、NA:項目なし)

No. 機能 ハードウエア Linux 2.6.14 WinCE 5.0 WinCE 6.0
1 プロセッサ
(PXA270、 312/520 MHz)
Yes Yes Yes Yes
2 フラッシュメモリ (16/ 32 MB) Yes Yes Yes Yes
3 SDRAM (32, 64, 128 MB) Yes Yes Yes Yes
4 LCD 3.5" (320 x 240) Yes Yes Yes Yes
5 LCD 7" 開発中 NO Yes NO
6 タッチパネル Yes Yes Yes Yes
7 シリアルポート (Debug UART) Yes Yes Yes Yes
8 UART (ポート 2, 3) Yes Yes Yes Yes
9 オーディオライン入力/マイク入力 Yes Yes Yes NO
10 USB ホスト 1.1 Yes Yes Yes Yes
11 USB デバイス 1.1 Yes Yes Yes Yes
12 SD / MMC カードスロット (低速) Yes Yes Yes NO
13 バッテリ (7.4V) Yes Yes Yes Yes
14 GPS Yes NO Yes Yes
15 GSM Yes NO Yes Yes
15 Wi-Fi Yes
(オンボードSPI/SDIO)
Yes Yes Yes
16 キーパッド (マトリックス 8X8) Yes NO Yes NO
17 RTC Yes Yes Yes Yes
付加機能
1 マグネティック スイープ リーダ
(外部)
Yes NO NO NO
2 アクティブ シンク Yes NA Yes Yes
3 SDIO ワイヤレス LAN SD経由 Yes Yes Yes
4 USB カメラ USB ホスト経由 Yes Yes NO
5 USB マウス USB ホスト経由 NO Yes NO
6 USB キーボード USB ホスト経由 NO Yes NO
7 USB ストレージ USB ホスト経由 Yes Yes Yes
8 .Net Compact FrameWork 2.0 - - Yes Yes
9 Windows CE Hive Boot - - Yes NO
10 USB RFID USB ホスト経由 Yes Yes Yes
11 シリアル サーマル プリンタ UART経由 Yes Yes Yes
12 シリアル バーコード スキャナ UART経由 Yes Yes Yes
GUI ライブラリ
1 MicroWindows NA Yes - -
2 Qtopia NA NO - -
3 Windows CE デフォルト シェル - - Yes Yes
4 X-Windows NA Yes - -
5 Java NA Yes NO NO
6 ベータプレイヤ, WMPダイレクトショー
ハードウエア コーデック用プラグイン
- - Yes Yes

環境試験仕様


No. 試験 試験条件 説明
1 耐久試験
通電状態で48時間 全システムが動作状態で機能にエラーが発生しないこと。
2 振動試験: (輸送条件)
a)初期応答調査


b) 正弦波スイープによる耐久試験




c) 最終応答サーチ
周波数: 5 - 8 Hz: 6mm
(定常変移)

周波数: 8-500 Hz: 10m/sec2
(定常加速)

過酷な条件: 5-8 Hz: 15m/sec2 (定常加速)

継続時間: 2時間/軸
条件は、上記(a)と同様
応答の変化を観測し記録する。







最初の応答での逸脱についての確認
3 温度試験
a) 動作状態


b) 保管状態
温度: 55± 3℃
時間: 16 時間

温度: 70± 3℃
時間: 16 時間
PCを30分間放置


PCを復旧後
4 加湿試験
温度: 55± 3℃
湿度: 95%以上
時間: 16 時間
PCを30分放置し、
目視を行い、PCを復旧
5 低温試験
a) 動作試験


b) 保管試験
温度: -30± 3℃


温度: -40± 3℃
時間: 16 時間
PCを少なくとも30分放置


目視を行い、PCを復旧
6 高度試験 - オプション
温度: 30± 3℃
高度: 16,700 ft
時間: 16 時間
PCを少なくとも30分放置
7 温度衝撃試験
温度: 50± 3℃で 3 時間
湿度: <30% で 3 時間
移行時間: <6 分
温度: -30± 3℃で 3 時間
サイクル数: 4
PCを試験の前後で
確認し、目視試験は、
試験の後で実施
8 熱帯露出試験
a) 温度: 35± 3℃
  湿度: 95%
  期間: 12 時間

a) 温度: 20± 3℃
  湿度: 飽和状態
  期間: 12 時間

c) 温度を上記状態に
  6 時間かけて到達させる

a), b), c)条件を1サイクルとし、
7サイクル実施
目視を行い、
PCは試験の後でテスト
9 ダスト
温度: 40± 3℃
湿度: 50%
期間: 1時間攪拌
1 時間 ettling
PCを試験の前後で確認し
目視試験は、試験の後で
実施
10 ショックテスト (梱包状態)
苛酷条件: 20g, 18m.sec
ショック数: 各方向3回
目視を行い、
PCは試験の後でテスト

詳しくは、営業へお問い合わせ下さい。



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